ZEISS METROTOM 800 & 1500

基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）

利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。

蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。

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第三代计算机断层扫描（CT）系统

蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。

在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。

蔡司METROTOM 1500（第2代与第3代）中铝制部件的图像比较。由于体素尺寸较小，新的3K检测器可以以更高分辨率清晰显示更小的细节。

通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。

蔡司METROTOM是一种工业计算机断层扫描系统，用于测量和检查由塑料或轻金属制成的完整部件。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

利用蔡司METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精确，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，蔡司METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

仅需通过短时间的蔡司METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。通过蔡司CALYPSO和NEO软件，您可以评估CT数据，通过蔡司PiWeb，它们可以在一个测量报告中快速合并。